FSM探針顯微鏡
本款探針顯微鏡適應(yīng)于半導(dǎo)體行業(yè)對晶圓的探測檢測，除了適用于可見光以外， 紫外和紅外也是可以應(yīng)用。成像質(zhì)量好， 透過率高。
本款探針顯微鏡匹配各種探針臺對半導(dǎo)體行業(yè)對晶圓等工業(yè)領(lǐng)域的檢測，除了適用于可見光以外， 紫外和紅外也是可以應(yīng)用，355nm, 365nm, 532nm, 1064nm光譜性能優(yōu)異，對激光閾值高的必須跟廠家確認(rèn)。成像質(zhì)量好， 透過率高。