適合于半導(dǎo)體行業(yè)液晶面板的檢測，微分粒子等DIC檢測。
1． 產(chǎn)品優(yōu)點/特點介紹
XSK400顯微鏡為無限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)，長工作距離平場復(fù)消色差物鏡，穩(wěn)定可靠的架臺，精確的調(diào)焦機構(gòu)。采用LED用軸光源和LED透射光源照明。偏光系統(tǒng)檢偏鏡可調(diào)轉(zhuǎn)動100度便于偏光正交觀察。DIC棱鏡插板機構(gòu)采用可調(diào)節(jié)的方式可得到最佳的微分干涉效果。大視野單目觀察，減少很多中間環(huán)節(jié)，使成像更清晰效果更好。配置高清模擬攝像機能快速捕捉高質(zhì)量的清晰圖像。
XSK400顯微鏡穩(wěn)定可靠，操作方便，成像清晰。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、電子工業(yè)。對晶體、集成電路的檢驗和科學(xué)研究?？膳渲媚M攝像頭對所觀察的樣品進行拍照、儲存、測量、分析。
用途：
1． 明場觀察：使用亮度可調(diào)的同軸照明，對晶體、集成電路的檢驗、精密制造業(yè)的裝配、零件檢測和品質(zhì)控制。
2． 透射觀察：采用亮度可調(diào)的透射照明，可觀察透明樣品，尤其對液晶顯示屏的檢測效果更好，能清楚的看到發(fā)光屏的三色模塊，因此能檢測顯示屏的好壞，可判斷其質(zhì)量。
3． 偏光觀察：系統(tǒng)內(nèi)裝置偏光機構(gòu)，起偏鏡固定在照明系統(tǒng)；檢偏鏡裝置在成像系統(tǒng)、轉(zhuǎn)動100度可調(diào)，便于正交觀察。主要對金相樣品進行正交偏振光觀察，還可應(yīng)用于礦物、化學(xué)等領(lǐng)域。
4． DIC觀察--微分干涉觀察：在明場、偏光正交的系統(tǒng)里再插入DIC棱鏡裝置（渥拉斯頓棱鏡）。（DIC）作為一種極具前途的分析檢驗方法，具有對金相樣品的制備要求較低，所觀察到的樣品各組成之間的相對層次關(guān)系突出，呈明顯的浮雕狀，對顆粒、裂紋、孔洞以及凸起等能作出正確的判斷，能夠容易判斷許多明場下所看不到的或難于判別的一些結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)或缺陷，可進行彩色金相攝影等優(yōu)點。但在目前的金相檢驗工作中，（DIC）法還利用得很少。 特別是對液晶顯示屏導(dǎo)電板的檢測效果更好，能夠清楚的觀察到導(dǎo)電板基板上的導(dǎo)電粒子。使用DIC技術(shù)，可以使物體表面微小的高低差展現(xiàn)出清晰，輪廓突出，帶立體感的浮雕成像，極大的提高圖像的對比度。
2． 成像圖
